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IOWN・光電融合 / 確認された動き
サンテック、シリコンフォトニクス評価用の波長掃引分析装置を開発
何が起きた？
サンテックは、シリコンフォトニクス素子などの評価に向け、波長掃引型フォトニクスアナライザSPA-100を開発した。反射点・波長依存損失・ファイバと素子間の距離を測定する機能を備える。
何を意味し、何を意味しないか。
評価装置の開発成果です。顧客の量産ライン採用や商用運用を示しません。
根拠
サンテックは、シリコンフォトニクス素子などの評価に向け、波長掃引型フォトニクスアナライザSPA-100を開発した。反射点・波長依存損失・ファイバと素子間の距離を測定する機能を備える。
元資料
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関連技術
IOWN・光電融合関わる企業・研究機関
- santec Holdings株式会社
一次情報で確認された関与 · 2件の動き
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